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產(chǎn)品展示
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用來測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來越重要了,例如雙層鎳的測(cè)量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作
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PHASCOPE PMP10是一款根據(jù)相位感度渦流方法快速,簡(jiǎn)便和現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)量鍍層厚度的手提式儀器。通過選擇合適的測(cè)量探頭,甚可以達(dá)到非接觸式的測(cè)量
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PHASCOPE PMP10是一款根據(jù)相位感度渦流方法快速,簡(jiǎn)便和現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)量鍍層厚度的手提式儀器。通過選擇合適的測(cè)量探頭,甚可以達(dá)到非接觸式的測(cè)量
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MMS系統(tǒng)可以配置多種Fischer智慧型探頭,這樣,使用者就可以下列測(cè)試方法中的一種或其組合實(shí)現(xiàn)無損測(cè)量:磁感應(yīng)法,渦流法,BETA散射法,霍耳效應(yīng)或電阻法
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MMS系統(tǒng)可以配置多種Fischer智慧型探頭,這樣,使用者就可以下列測(cè)試方法中的一種或其組合實(shí)現(xiàn)無損測(cè)量:磁感應(yīng)法,渦流法,BETA散射法,霍耳效應(yīng)或電阻法
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FISCHERSCOPE X-射線流水線 4000 非接觸式地測(cè)量連續(xù)滾動(dòng)的物料帶。物料帶可以是扁平或沖孔的,主要當(dāng)物料帶表面有已成形的或有突出的表面
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新型號(hào)的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨(dú)特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng)
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該系統(tǒng)非常適合于測(cè)量大批量生產(chǎn)的部件,例如螺絲,連接器插針或大的線路板。按動(dòng)按鈕就可根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試點(diǎn)定位進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量,并可自動(dòng)的進(jìn)行評(píng)估報(bào)告輸出